Wimbush, K. S.; Fratila, R. M.; Wang, D. D.; Qi, D. C.; Cao, L.; Yuan, L.; Yakovlev, N.; Loh. K. P.; Reinhoudt, D. N.; Velders, A. H.; Nijhuis, C. A. , Nanoscale 2014, 19, 11246-11258.